Achtung: Aufgrund vieler Nachfragen bzw. hoher Resonanz werden die endgültigen Anmeldefristen bis zum 31.5.2012 verlängert!
Herzlich willkommen zur AOFA 17 in Soest.
24.–26. September 2012
Die alle zwei Jahre stattfindende Arbeitstagung „Angewandte Oberflächenanalytik“ AOFA ist ein wichtiges Forum für Analytiker, aber auch für Entwickler, Betreiber und Nutzer von Oberflächenanalyseverfahren. Oberflächenanalytik ist immer noch nicht Routine. Die 17. AOFA dient der Standortbestimmung und stellt eine Plattform dar, auf der Aspekte der gesamten Kette vom Problem über die analytische Fragestellung bis hin zur Problemlösung behandelt werden. Auf der Tagung sollen Fortschrittsberichte von Analytikern, Werkstoffwissenschaftlern, Festkörperphysikern und Technologen über neue methodische Entwicklungen vorgestellt werden. Nutzer und Anwender aus der Industrie erhalten einerseits die Möglichkeit, ihre aktuellen Problemstellungen darzustellen und somit neue verfahrens- und gerätetechnische Entwicklungen anzuregen, andererseits können sie sich über den aktuellen Stand der Forschungen und Entwicklungen informieren – inklusive der zugehörigen Grundlagen. Das Tagungsprogramm umfasst eingeladene Vorträge sowie eingereichte Kurzvorträge und Poster.
Tagungsort & Termin
Die AOFA 17 findet von Montag, dem 24. September, bis Mittwoch, dem 26. September, in der Stadthalle in Soest statt. Bereits am Sonntagabend (23. September) heißen wir ab 18 Uhr alle Tagungsteilnehmer mit einem Umtrunk und einem kleinen Imbiss willkommen.
Themenkreise
- Analyse der Oberflächen- und Grenzflächeneigenschaften von Werkstoffen (Metalle, anorganische und organische Halbleiter, Keramiken, Polymere, magnetische Materialien, Biowerkstoffe)
- Chemische Reaktionen an Oberflächen und inneren Grenzflächen (Adsorption, Korrosion, Oxidation, Katalyse)
- Teilchentransport an Festkörperoberflächen und dünnen Schichten (Diffusion, Segregation)
- Charakterisierung und Kontrolle von Dünnschichtsystemen
- Oberflächen- und Tiefenprofilanalyse an Isolatoren (Glas, Keramik, Polymere)
- Strukturbestimmung im oberflächennahen Bereich
- Mikro- und Nanobereichsanalyse (abbildende Analysen, Tiefenprofilanalyse)
- Spurenanalyse
- Neue verfahrens- und gerätetechnische Entwicklungen
- Quantifizierung von Messsignalen
- Schadensanalysen
- Neue Einsatzmöglichkeiten von oberflächenanalytischen Methoden
Firmenausstellung
An der Firmenausstellung werden sich neben den Herstellern von Analysegeräten und deren Zubehör auch Anbieter von Auftragsanalysen beteiligen. Die Tagungsteilnehmer sollen so die Kontakte zu den Geräteherstellern und Anwendern intensivieren und direkte Informationen einholen können. Für die ausstellenden Firmen ergibt sich die Möglichkeit, einem breiten Nutzerkreis den neuesten gerätetechnischen Stand zu demonstrieren und Anregungen für gerätetechnische Entwicklungen zu erhalten.
Tutorium "Grundlagen der Oberflächenanalytik"
Im Vorfeld der Tagung veranstaltet die Deutsche Vakuumgesellschaft DVG zum zweiten Mal ein zweitägiges Tutorium zum Thema „Grundlagen der Oberflächenanalytik”. Weitere Information zu diesem Tutorium finden Sie hier.